Amelia Barreiro – One day at the joan miro nano-museum
Amelia Barreiro ordnet ihren Beitrag dem Thema „Tag“ zu: „Die “Scanning electron Microscope” (SEM) Aufnahme fuer das Bild ist per Zufall enstanden als ich einen Chip mit kontaktiertem Graphene untersuchen wollte. Als ich auf dem Chip gescannt habe, sah ich an den Raendern des Substrates Kratzer, die bei den diversen Nano-fabrikationschritten durch die Manipulation mit Pinzetten entstanden sind. Diese kraeftigen Kratzer haben den Charakter der Pinselstriche vieler moderner Kunstwerke, insbesondere hat mich die Aufnahme an Joan Miro erinnert.“
